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无损检测仪器设备校准或核查要求

2011-04-09

                                            无损检测仪器设备校准或核查要求
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(规范性附录)
 A.1 超声检测
A.1.1 初次使用的标准试块、对比试块,应有有效的合格证书。
A.1.2 标准试块、对比试块每次使用前,应进行外观腐蚀及机械损伤情况核查;每隔4年应采用经校准的器具对其半径及其它尺寸进行核查。
A.1.3脉冲反射式超声波探伤仪每1年,应进行校准(或自校准),方法参照JJG 746-2004《超声波探伤仪检定规程》。
A.1.4 脉冲反射式超声超声波探伤仪每隔3个月,应采用标准试块进行水平线性、垂直线性核查,方法参照JB/T 10061-1999《A型脉冲反射式超声波探伤系统工作性能  测试方法》。
A.1.5 探头使用前,应进行前沿距离(入射点)、K值(折射角β)与双峰、主声束偏离等主要参数核查,方法参照JB/T 10062-1999《超声探伤用探头  性能测试方法》。
A.1.6 超声检测系统每次使用前,斜探头应进行前沿距离(入射点)、K值(折射角β)与主声束偏离等核查;直探头应进行始脉冲宽度(在基准灵敏度下)、灵敏度余量和分辨力等核查,方法参照JB/T 9214-1999 《A型脉冲反射式超声波探伤系统工作性能  测试方法》和/或JB/T 10062-1999《超声探伤用探头  性能测试方法》。
A.2  磁粉检测
A.2.1 永久磁铁或电磁轭磁粉探伤机的提升力,至少每半年应采用经校准的提升力重力试块进行核查。
A.2.2 提升力重力试块,每2年应采用经校准的秤重器具进行核查。
A.2.3 磁粉检测设备的电流表,至少每半年进行核查或校准(或自校准)。
A.2.4黑光辐照计、照度计、磁场强度计、毫特斯拉计等,至少每年进行核查或校准(或自校准)。
A.2.5 设备内部短路检查、电流载荷、通电时间等,至少每年进行核查。
A.2.6 磁粉检测系统综合性能(系统灵敏度),每次检测前,用标准试片、标准试块进行核查。
A.2.7 对于荧光磁粉检测,每次检测前,应采用黑光辐照计对被检测表面的黑光辐照度进行核查,采用白光照度计对周围环境的白光亮度进行核查;对于非荧光磁粉检测,每次检测前,应采用白光照度计对周围环境的白光亮度进行核查。
A.3  渗透检测
A.3.1 黑光辐照度计、荧光亮度计和照度计等,至少每年进行核查或校准(或自校准)。
A.3.2 对于荧光渗透检测,每次检测前,应采用黑光辐照计对被检测表面的黑光辐照度进行核查,采用白光照度计对周围环境的白光亮度进行核查;对于非荧光渗透检测,每次检测前,应采用白光照度计对周围环境的白光亮度进行核查。
A.4  射线检测
A.4.1 射线设备均应制作曝光曲线,曝光曲线每年至少核查一次;射线设备更换重要部件或经较大修理后,应及时对曝光曲线进行核查。
A.4.2 黑度计(光学密度计)至少每6个月,应采用标准密度片进行核查,方法参照JB/T 4730.2附录B要求。
A.4.3 标准密度片每2年,应进行校准(或自校准),方法参照JJG 452-1986《黑白标准密度片检定规程》。
A.4.4 个人剂量计、剂量报警仪每1年,应送法定计量检定机构进行检定。
A.4.5 观片灯的亮度和均匀度,应每年进行核查或校准。
A.5  厚度检测
A.5.1 超声测厚仪每1年,应进行校准(或自校准),方法参照JJG 403-1986《超声波测厚仪检定规程》或 JJF11266-2004《超声波测厚仪校准规范》。
A.5.2 涂层测厚仪每1年,应进行校准(或自校准),方法参照JJG 889-1995《磁阻法测厚仪检定规程》、JJG818-1993《电涡流式测厚仪检定规程》。
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